四探針測試儀，也稱為四端傳感，是電氣工程中廣泛使用的測量電阻抗的技術(shù)。它特別受歡迎，因為它能夠進(jìn)行更準(zhǔn)確的測量，主要是通過減少接觸電阻和擴(kuò)散電阻的影響，這是雙探頭測量中的常見問題。

然而，雖然四探針測試儀具有明顯的優(yōu)勢，但也值得承認(rèn)它并非沒有一些潛在的局限性：

樣品表面質(zhì)量： 被測材料的表面應(yīng)盡可能平整光滑。不均勻、污染或不規(guī)則會導(dǎo)致錯誤或不一致的結(jié)果。在處理自然具有粗糙或不平坦表面的材料時，此要求可能會帶來挑戰(zhàn)。

探頭對齊： 四個探頭需要正確且均勻地間隔以進(jìn)行精確測量。未對準(zhǔn)或間距不均勻可能導(dǎo)致讀數(shù)不準(zhǔn)確。

樣品厚度： 該技術(shù)通常對于所有尺寸都比探針間距大得多的材料最為準(zhǔn)確。因此，它可能不適合測量非常薄的薄膜或非常小的樣品。

校準(zhǔn)： 與任何精密測量技術(shù)一樣，四點(diǎn)探針法需要定期校準(zhǔn)以保持其準(zhǔn)確性。就維護(hù)工作量和時間而言，此要求可能被認(rèn)為是一個缺點(diǎn)。

成本： 四點(diǎn)探針設(shè)備往往比簡單的兩點(diǎn)法更昂貴，主要是因為它需要額外的設(shè)備來分離電流和電壓電路。

復(fù)雜性： 該方法比雙探針方法更復(fù)雜，這意味著它需要更多的培訓(xùn)和理解才能有效使用。如果執(zhí)行不正確，這種復(fù)雜性會導(dǎo)致錯誤或不準(zhǔn)確的測量。

然而，這些潛在的缺點(diǎn)并沒有削弱四點(diǎn)探測法的巨大價值。在許多場景中，尤其是在需要高精度的情況下，好處遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過這些限制。它仍然是材料科學(xué)和半導(dǎo)體制造等領(lǐng)域的重要工具。