常用的接觸式測量半導體材料電阻率的方法主要有這幾種：

兩探針法；三探針法；四探針法；單探針擴展電阻法；范德堡法。

兩探針法。這種方法適用于長條形或棒狀試樣，通過測量電壓和電流來計算電阻率。其原理簡單，操作方便，但受限于樣品形狀和尺寸。

三探針法，它適用于測量相同導電類型、低阻襯底的外延層材料。利用金屬探針與半導體接觸處的反向電流和電壓特性，可以準確測定材料電阻率。這種方法在研究外延層特性時尤為重要。

四探針法是另一種常用的測量方法，特別適用于樣品沿徑向分布的斷面電阻率。通過在樣品表面放置四根探針，測量電壓來計算電阻率。這種方法在半導體材料表征和器件制造中有著廣泛的應用。

單探針擴展電阻法是一種適用于測量體材料的微區(qū)均勻性及外延材料、多層結(jié)構(gòu)或擴展層等材料的電阻率或電阻率分布的方法。它通過單個探針與樣品接觸，通過改變探針位置來獲得不同位置的電阻率信息。

范德堡法，適用于厚度均勻、無孤立孔洞的片狀樣品。通過在樣品邊緣取四個接觸點來測量電阻率。這種方法在測量薄片材料的電阻率時非常有效。

了解不同的測量方法，選擇合適的產(chǎn)品，可進一步提高效率。蘇州同創(chuàng)電子有限公司的最新產(chǎn)品SZT-2C，是一款高性能的四探針測試儀，適用于各種半導體材料的電阻率測量。它具有高精度、高穩(wěn)定性等特點，是進行半導體電阻率測量的理想選擇。